目前，在集成電路IC領(lǐng)域，環(huán)境可靠性測試設(shè)備主要有高低溫試驗(yàn)箱以及HAST試驗(yàn)箱。但為什么HAST試驗(yàn)箱會(huì)成為集成電路IC可靠性測試的佳選呢?兩個(gè)試驗(yàn)箱之間的區(qū)別究竟在哪呢?下面就讓我們一起來了解一下吧。
 

　　這由于HAST試驗(yàn)箱結(jié)合壓力、濕度、濕度條件的高加速試驗(yàn)，在高壓條件下加速濕氣滲透到外外部保護(hù)物料(塑封料或絲印)或沿外保護(hù)物料與金屬導(dǎo)電層之間界面滲入，本測試用于識別封裝內(nèi)部的失效機(jī)制，并且是破壞性的。
 

　　高低溫試驗(yàn)箱可分為高低溫運(yùn)行測試、高低溫貯存測試、高低溫交變測試、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試等，雖然可測試的項(xiàng)目較多，可測試集成電路IC在不同溫度條件下的使用壽命。
 

　　但只是單一的溫濕度測試不夠準(zhǔn)確的測試產(chǎn)品在氣壓下的使用情況。而HAST試驗(yàn)箱測試集溫度-濕度-壓力(非飽和可調(diào))一體，多方面測試集成電路IC，評估產(chǎn)品的失效機(jī)制。

 

　　高低溫試驗(yàn)箱的產(chǎn)品優(yōu)勢：
 

　　1、極限測試溫度可達(dá)300℃，低溫-200℃，電耗低;
 

　　2、低溫長期1000小時(shí)以上不結(jié)霜;
 

　　3、可編程控制，可通過互聯(lián)網(wǎng)、WIFI、手機(jī)APP等監(jiān)控設(shè)備運(yùn)行情況。
 

　　HAST試驗(yàn)箱的產(chǎn)品優(yōu)勢：
 

　　1、濕度可調(diào)式溫度-濕度-壓力一體試驗(yàn)設(shè)備，測試穩(wěn)定性高;
 

　　2、可配置多個(gè)測試端口供給用戶產(chǎn)品帶電測試;
 

　　3、設(shè)備升溫時(shí)自動(dòng)預(yù)排空氣潔凈度，確保箱內(nèi)純凈度;
 

　　4、箱體采用耐高壓設(shè)計(jì)技術(shù)，確保設(shè)備、操作人員安全。
 

　　那么在看完上述內(nèi)容之后大家是否對這兩個(gè)試驗(yàn)箱有更多的了解呢?那么在兩者之間的選擇上就不用我們多說相信各位心里已經(jīng)有更好的答案了。